文章目录
新生儿惊厥后遗症
1、新生儿惊厥导致脑性瘫痪
脑性瘫痪是由多种原因引起的非进行性中枢神经运动功能障碍为主的一种综合征。研究显示,新生儿生后5分钟内apagar评分越低者脑性瘫痪的发生率越高,在生后5分钟以后仍需复苏的新生儿惊厥的患儿中,仅这一项便能预示可能发生中度或重度的脑性瘫痪。新生儿惊厥发作的持续时间越长,后来发生脑性瘫痪的可能性越大。发作1天者其发生率为7%,3天以上者有46%发生脑性瘫痪。还与 新生儿惊厥发作的类型有关,强直型发作与后遗脑性瘫痪的关系更密切。临床上,中度或严重异常的脑电图者发生脑性瘫痪的危险性大。
2、新生儿惊厥导致智力障碍
新生儿惊厥后是否会遗留智力障碍与下列因素有关:① 出生5分钟apgar评分0~3分者,45%有智力障碍;4~6分者,33%有智力障碍;7~10分者,只有11%有智力障碍。② 出生5分钟以后仍需要复苏的患儿发生智力障碍的危险性较大。③ 惊厥发作时间超过30分钟、新生儿期肌强直和肌阵挛发作及惊厥发作的持续时间与智力障碍关系均很密切。
3、小高热惊厥会留下后遗症吗
高热惊厥是指由于高热而引起的惊厥,一般初次发作在小儿1个月至5~6岁之间,多见于上呼吸道感染或其他传染病体温在38℃以上时,多突然出现,发作往往短暂,发作后无神经系统症状和体征。
高热惊厥是小儿最多见的惊厥类型,在5岁以下小儿中约2%~3%曾有过1次以上的高热惊厥。那么高热惊厥会留下后遗症吗?一般来说,大多数预后是好的,6岁以后不再发作,不会留下神经系统后遗症。但有一部分患儿(约5%~15%)可后遗智力低下、癫痫、行为异常等神经功能障碍。
新生儿惊厥的原因
新生儿惊厥的原因可能是缺氧缺血性脑病导致,脑膜炎、脑炎、脑脓肿、败血症、破伤风等,以化脓性脑膜炎和败血症也会出现惊厥的症状。药物过量或中毒也会造成惊厥。此现象也可能是家族性良性惊厥。
1、颅内疾病:缺氧缺血性脑病:占惊厥病因的60%—70%,惊厥多见于生后24小时内; 缺氧性及产伤性颅内出血:惊厥多见于生后2—3天;脑梗塞:多为大脑中动脉梗塞、惊厥多见于生后1—4天。
2、感染:多见于脑膜炎、脑炎、脑脓肿、败血症、破伤风等,以化脓性脑膜炎和败血症为多。宫内感染的宝宝,惊厥见于生后3天内,生后感染的则多见于出生后1周后。新生儿高热惊厥罕见。
3、代谢异常:低血糖,多发生于生后3天内;低钙血症,包括惊厥发生于生后1—3天的早发型及生后1—2周的迟发型;低镁血症,常与迟发型低钙血症并存;高钙或低钠血症;维生素B6缺乏症:惊厥见于生后数小时到2周,镇静剂无效;胆红素脑病;氨基酸代谢异常:枫糖尿症、苯丙酮尿症、高甘氨酸血症等。
小儿惊厥的护理措施
出现惊厥时,应立即将患儿平卧,解松领扣,头偏向一侧,使口腔分泌物易于流出,以免引起窒息。若出现窒息时,应立即吸出呼吸分泌物,施行人工呼吸。
用缠有纱布的压舌板放入口腔内上、下齿之间(如没有压舌松可用铝匙柄外面裹以手帕),以防舌被咬伤。保持环境安静,减少对患儿的刺激,惊厥发作不可将患儿的刺激,惊厥发作不可将患儿抱起或高声呼叫。
有高热时,应给以物理或药物降温。如惊厥发作时间较长,无论有无紫绀,均应给以吸氧,以减轻脑缺氧。惊厥发作时,禁忌任何饮食,包括饮水。待惊厥停止、神志清醒后根据病情适当给以流质或半流质。必要时可用针刺入中、合谷等穴位。
迅速送医院就医,并向医生反映抽痉开始时间、抽痉次数、持续时间、抽搐部位、两眼有否凝视或斜视、大小便有无失禁以及解痉后有无嗜睡现象等。以便诊断和处理。